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等離子體光譜儀在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展

點(diǎn)擊次數(shù):1974 更新時(shí)間:2020-05-27

  等離子體光譜儀由激發(fā)源(X射線(xiàn)管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)(一次X射線(xiàn)),激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn),并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。
 
  等離子體光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線(xiàn)的強(qiáng)度,也可以獲得各元素的含量信息。近年來(lái),在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得醉多也醉廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
 
  獲取方法是檢測(cè)器探測(cè)透過(guò)樣品后帶有信息的干涉光,經(jīng)過(guò)信號(hào)處理后獲取譜圖。干涉光的產(chǎn)生是通過(guò)光源發(fā)射出的入射到光束分裂器(類(lèi)似半反半透鏡)上,將分成兩束光分別到定鏡與動(dòng)鏡上。由于動(dòng)鏡是在一定距離范圍內(nèi)勻速運(yùn)動(dòng)的,因此兩束光形成光程差,在返回分束器的時(shí)產(chǎn)生干涉。
 
  等離子體光譜儀由燈源、光闌、干涉儀、樣品室、檢測(cè)器以及各種反射鏡、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等組成,樣品室的體積應(yīng)盡量大。應(yīng)能安裝各種小的附件,如各種衰減全反射(ATR)附件、漫反射附件、鏡反射附件等?,F(xiàn)等離子體光譜儀普遍能夠?qū)⒍喾N附件制作成智能附件,安裝后可通過(guò)軟體智能識(shí)別安裝的是哪種附件。

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